2011年11月07日热点新闻: 尽管一次保护通常被认为是可靠的,但当静电放电电压过高或超温时可能损坏保护IC 或MOS-FET ,而且在短路时集成电路会发生振荡,同时多数IC+MOS-FET 电路对充电、放电过电流的检测是间接的,并不能保证在电池的所有工作状态下都会提供过电流保护,保护的可靠性也降低了。一、锂离子电池保护面临的挑战:锂离子电池同NiMH 或NiCd 电池比较,电流密度大,广泛应用于各种便携式设备中。通常锂离子电池对过充电十分敏感。当充电至电池两端电压过高时,会增加电池漏液、冒烟、燃烧、爆裂的危险(这类危险往往相当剧烈)。过充电可能由充电失控、电极错误或使用不正确的充电器造成。锂离子电池在充放电电流过大或外部短路时,内部发热可能损坏电池或烧毁其他部件,严重缩短电池的循环使用寿命。保护电路的任务是针对电池可能出现的各种故障,对电池充放电状... [详细] |
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